MP工具箱 | Zetasizer測(cè)試結(jié)果質(zhì)量判別

更新時(shí)間：2024-11-12 點(diǎn)擊次數(shù)：280

在上一篇“MP工具箱"文章中，我們介紹了馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的粒徑測(cè)試報(bào)告中的的參數(shù)都代表了哪些含義，那么如何判斷納米粒度儀測(cè)試結(jié)果的質(zhì)量呢？本文將就此問題給出解答。

在判別Zetasizer納米粒度電位儀的測(cè)試結(jié)果前，我們要確保所測(cè)試的樣品濃度合適。對(duì)于大多數(shù)剛性納米粒子來說，在合適的濃度范圍內(nèi)，粒徑大小是不隨濃度變化的。通常適合測(cè)試的樣品為半透明或接近透明狀態(tài)。還可以通過對(duì)count rate（測(cè)試光強(qiáng)）和 attenuator （衰減器編號(hào)）等參數(shù)來考察樣品濃度是否合適。

正常的樣品濃度，光強(qiáng)會(huì)在適合范圍內(nèi)；如果衰減器編號(hào)過低或者過高，樣品的濃度就可能過高或者過低，導(dǎo)致影響測(cè)試準(zhǔn)確性。如果濃度合適，光強(qiáng)均在100-500kcps 之間，Attenuator 會(huì)在5-9 之間，＞9 樣品較稀，＜5 樣品較濃。

相關(guān)方程顯示了粒子散射光波動(dòng)的信息，相當(dāng)于測(cè)試原始信號(hào)。如下列例圖，樣品本身的粒徑大小及分布等信息，可以從相關(guān)方程得到，尤其要關(guān)注以下四點(diǎn)信息：

Correlation Functions----相關(guān)方程

截距——信噪比

一般截距在0.85-0.95 之間，過高＞1 可能體系中存在較多的大顆粒信號(hào)，數(shù)量波動(dòng)較大；過低可能是顆粒較小且濃度較稀；如果只有0.00+可能體系有熒光。

時(shí)間依賴性——顆粒大小

如果時(shí)間依賴性長(zhǎng)，說明顆粒較大，反之，顆粒較小。

斜率——樣品分布寬度

斜率較大說明樣品分布較窄，反之，則較寬。如果有兩個(gè)斜率，通常樣品雙峰分布。

基線——大顆粒或灰塵影響

如果基線不平，則說明體系中有很大的粒子、灰塵、締合物等；如果基線光滑且歸零，說明體系無大顆粒、灰塵等。大顆粒會(huì)影響數(shù)據(jù)的質(zhì)量。