X射線熒光光譜儀原理、用途及主要優(yōu)勢(shì)

 

    X射線熒光光譜儀是通過一種波長(zhǎng)較短的電磁輻射（X射線）。當(dāng)用X射線光管發(fā)出高能電子照射樣品時(shí)，入射電子被樣品中的電子減速，會(huì)產(chǎn)生寬帶連續(xù)X射線譜。如果入射光束為X射線，樣品中的元素內(nèi)層電子受其激發(fā)，可產(chǎn)生特征X射線，一般稱為X熒光射線（XRF）.通過SDD探測(cè)器收集到分析樣品中不同元素產(chǎn)生的熒光X射線波長(zhǎng)和強(qiáng)度，可獲得樣品中的元素組成與含量信息，達(dá)到定性和定量分析的目的。

 

二、X射線熒光光譜儀用途

 

1、鋼鐵行業(yè)：對(duì)生鐵、各類鑄鐵、各類合金鋼及爐渣、礦石、燒結(jié)礦、球團(tuán)礦、鐵精粉、

 

鐵礦石除碳（C）以外的各種元素成份分析。

 

2、耐火材料及水泥行業(yè)的分析：各類耐火材料及水泥生料樣品的成份分析。

 

3、有色行業(yè)：對(duì)鋁合金、不銹鋼、銅合金樣品及鉛鋅礦、銅礦、銀礦、鉬礦等各種成份

 

分析。

 

4、質(zhì)檢部門：ROSH指令中的Pb，Cd，Cr，Hg，Br及氯素各種等成份分析。

 

5、鍍層測(cè)厚：可對(duì)金屬材料及非金屬材料上的所有電鍍層的厚度進(jìn)行準(zhǔn)確無損測(cè)量。

 

三、x射線熒光光譜儀主要優(yōu)勢(shì)

 

1、：測(cè)試結(jié)果可以接近濕化學(xué)方法測(cè)試；

 

2、快速：分析樣品中的幾十個(gè)元素只需幾分鐘；

 

3、無損：不會(huì)破壞被分析樣品的物理和化學(xué)特性；

 

4、直觀：分析結(jié)果以圖表方式直接呈現(xiàn)；

 

5、環(huán)保：不會(huì)對(duì)環(huán)境產(chǎn)生污染破壞。