當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > x射線衍射儀 >
產(chǎn)品分類
PRODUCT相關(guān)文章
ARTICLES智能X射線衍射儀作為馬爾文帕納科第三代Empyrean銳影,該多功能X射線衍射儀的“MultiCore”多核光路系統(tǒng),無需人工干預(yù)即可實(shí)現(xiàn)多種類的不同測量。 馬爾文帕納科智能X射線衍射儀Empyrean 銳影具有在一臺(tái)儀器上測量多種類樣品的能力,無論是粉末、薄膜還是納米材料與固體物體。
馬爾文帕納科臺(tái)式X射線衍射儀Aeris 將給您留下深刻印象,數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度目前只有在大功率系統(tǒng)上才能實(shí)現(xiàn)。 這個(gè)小巧的儀器結(jié)合了簡單的測量與一步樣品裝載裝置,以及一個(gè)直觀簡潔的用戶界面,通過其內(nèi)置觸摸屏和直觀軟件,用戶可以無障礙地使用這款儀器。您可以享受這個(gè)流暢的過程–從樣品裝載到結(jié)果輸出,只需一個(gè)按鈕操作。
x射線衍射儀X'Pert 平臺(tái)在馬爾文帕納科 X 射線衍射系統(tǒng)的新型 X'Pert³ 系列中得以延用。 馬爾文帕納科X射線衍射儀X'Pert³ 平臺(tái)具有新型機(jī)載控制電子裝置,符合X 射線和運(yùn)動(dòng)安全規(guī)范,且具有環(huán)保和可靠性能,已準(zhǔn)備好迎接未來的挑戰(zhàn)。
DDCOM 用于超快速晶體取向測量 用于晶體取向測量的臺(tái)式 X射線衍射儀 (DDCOM) 是一種用于自動(dòng)測定各種晶體取向的工具。
用于晶體取向測量的SDCOM小型衍射儀 用于單晶(晶錠和晶圓)的材料研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制的臺(tái)式XRD設(shè)備。 Si | SiC | 金剛石 | AIN | GaAs | 石英 | LiNbO? | bbo | GaN 和其他一百多種材料。