X射線衍射儀是一種重要的分析儀器，其基本原理是利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來分析材料的晶體結(jié)構(gòu)。當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級(jí)，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，每種晶體所產(chǎn)生的衍射花樣都反映出該晶體內(nèi)部的原子分配規(guī)律。X射線衍射儀其操作要領(lǐng)：一、準(zhǔn)備工作檢查設(shè)備：確保X射線衍射儀處于良好工作狀態(tài)，各部件連...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種先進(jìn)的物理性能測(cè)試儀器，主要用于材料科學(xué)和生物學(xué)領(lǐng)域，能夠精準(zhǔn)測(cè)量納米顆粒的濃度、粒徑分布以及動(dòng)力學(xué)過程。其利用光散射和布朗運(yùn)動(dòng)的特性，通過激光光束穿過樣本室并沿光束散射光的路徑穿過懸浮液中的顆粒，實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化。攝像頭捕捉布朗運(yùn)動(dòng)下移動(dòng)顆粒的視頻文件，軟件單獨(dú)追蹤多個(gè)顆粒并利用愛因斯坦方程式計(jì)算顆粒的流體力學(xué)直徑。同時(shí)，該技術(shù)還可以提供顆粒的濃度信息和粒徑分布數(shù)據(jù)。為了確保其長期穩(wěn)定運(yùn)行和測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性，維護(hù)保養(yǎng)工作至關(guān)重要。以下是納米顆粒跟蹤分...

x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。其基本原理是利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出次級(jí)X射線，即X射線熒光。當(dāng)這些高能射線與樣品中的原子相互作用時(shí)，會(huì)將原子內(nèi)層的電子擊出，導(dǎo)致外層電子躍遷到內(nèi)層。當(dāng)外層電子返回基態(tài)時(shí)，會(huì)釋放出特征X射線，這些特征X射線的能量或波長與元素的種類有關(guān)。通過檢測(cè)這些特征X射線，可以確定樣品中存在的元素種類及其含量。為了確保操作的準(zhǔn)確性和安全性，以下是x射線熒光光譜儀詳細(xì)的操作事項(xiàng)：1、準(zhǔn)備工作檢查電源和冷卻系統(tǒng)：確保X射線...

粉末衍射儀，特別是粉末X射線衍射儀，是一種基于X射線衍射原理的重要分析儀器，在材料科學(xué)、化學(xué)、物理等多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其工作原理是利用具有一定發(fā)散度的特征X光束照射多晶平板樣品。多晶平板樣品中一部分被照射的小晶粒的同名衍射晶面及其等同晶面所產(chǎn)生的衍射線將在適當(dāng)?shù)姆轿痪劢苟纬裳苌鋸?qiáng)峰。這些被聚焦的衍射線所對(duì)應(yīng)的同名晶面或等同晶面與光源和接收狹縫處在同一聚焦圓周上。在測(cè)角儀掃描過程中，聚焦圓的半徑會(huì)不斷改變，但在樣品一定深度范圍內(nèi)總是存在與聚焦圓吻合的弧面。這些滿足...

馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的Zeta電位測(cè)試報(bào)告中的的參數(shù)都有哪些，分別代表了什么含義？本文將逐一解釋。如下圖所示，Zetasizer的電位測(cè)試報(bào)告的形式分為三個(gè)部分：SampleDetail樣品細(xì)節(jié)PhasePlot相位圖及ZetaPotentialDistributionZeta電位分布圖StatisticsTable測(cè)試結(jié)果統(tǒng)計(jì)表01丨SampleDetail在粒度測(cè)試報(bào)告SampleDetail區(qū)域中，加粗的參數(shù)含義如下：SampleName：樣品名...